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密集光波分复用系统的波长测量技术

作者:不详  来源:不详  发布人:admin  发布时间:2005-10-16 2:50:12

:本文阐述密集光波分复用系统概况、系统测试求,可调谐光滤器结构,以及便携式光谱分析仪应用方式与相关测量仪表展望。 

  信息时代信息爆炸导致通信带宽需求或通信络容量爆增。近期北美骨干业务量约6-9个月翻一番,达到了所谓“光速经济”时期,它比微电子芯片性能发展摩尔法则(约18个月翻一番)快2-3倍,而且迄今这种发展势头不减。面对这种发展趋势,各个通信发达国家都在积极研究设计新宽带络,可持续发展络CUN、下一代络NGN、新公众NPN、一体化UN等,但其基础传输媒质物理层都是密集光波分复用(DWDM)光传送OTN。不此就不可能提供巨通信带宽,高度可靠传输性能,足够业务承载容量以及低廉使用费用,确保可持续发展,支持当前和未来任何业务信号传送求。 

  1 密集光波分复用(DWDM)系统 

  DWDM系统主由光合波器、光分波器和掺铒光纤放器(EDFA)组成。其中EDFA作用是由比信号波长低高能量光泵源将能量辐射进一段掺铒光纤中,当载有净负荷光波通过此段光纤一起传播时,完成光能量转移,使在1530-1565m波长范围内各个光波承载净负荷信号全都得到放,弥补了光纤线路能量损失。这样,当用EDFA代替传统光通信链路中中继段设备时,就能以最少费用直接通过增加波长数增传输容量,使整个光通信系统结构和设计都简化,并便于施工维护。 

  EDFA在DWDM系统中实际应用时又分为功放或后置放器(BA),预放或前置放器(PA)和线路放器(LA)3种,但有公司为了简化,尽量减少设备品种,统一为OA,以便于维护。 

  目前商用DWDM系统每个波长数据速率是2.5Gbps,或10Gbps,波长数为4、8、16、32等;40、80甚至132个波长DWDM系统也已有产品。常用有两类配置。一类是在光合波器前与在光分波器后设置波长转换器(Wavelength Transponder)OTU。这一类配置是开放式,采用这种可以使用现有1310nm和1550nm波长区任一厂家光发送与光接收机模块;波长转换器将这些非标准光波长信号变换到1550nm窗口中规定标准光波长信号,以便在DWDM系统中传输。美国Ciena公司、欧洲pirelli公司采用这类配置,他们是生产光器件公司,通常,所生产光分波合波器有较性能参数。Ciena公司采用信道波长间隔为0.8nm,对应100GHz带宽,在1545.3-1557.4nm波长范围内提供16个光波信道或光路。但他们没有SDH传输设备,因此,在系统配置、络管理方面不能统一考虑。此类配置优点是应用灵活、通用性强,缺点是增加波长转换器、成本较高。另一类配置是不用波长转换器,将波分复用、解复用部分和传输系统产品集成在一起,这一类配置是一体或集成,这样简化了系统结构、降低了成本,而且便于将SDH传输设备和DWDM设备在同一管平台上进行管理操作。这类配置生产厂家Lucent、Siemens、Nort el等,他们是SDH传输系统设备供应商,有条件这样做。他们在做4×2.5G32bpsDWDM系统设计时就考虑与4×10Gbps速率兼容,考虑增加至8个波长、16个波长、基至40个波长、80个波长,以及2.5Gbps和10Gbps混合应用,确保系统在线不断扩容,平滑过渡,不影响通信业务。当然,他们也提供开放式配置,或发送是开放式,接收为一体式DWDM系统设备。 

  由于初期商用EDFA带宽平坦范围在1540-1560nm,故早期使用DWDM系统复用光波长多在1550nm附近。后来实际EDFA增益谱宽为35nm,约4.2THz,其中增益起伏小于1dB谱宽在1539-1565nm之间,若以1.6nm(对应200GHz)波长间隔,则最少可实现8波长,乃至16波长同步放;若以0.8nm(对应100GHz)波长间隔,则最少可实现16个波长,乃至32个波长DWDM系统,再加上EDFA约40dB高增益,于100mW高输出功率,以及4-5dB低噪声值等优越性能,故极地促进了DWDM系统快速发展。 

  正电放器那样,光放器在放光信号同时也引入噪声。它由光子自发幅射(Spontaneous Emission)产生。此种噪声和光信号在光放器中一起放,并逐级积累形成干扰信号,即熟知自发辐射(Amplified Spontaneous Emission,简写为ASE)干扰信号。这种ASE干扰信号经多经光放积累功率会到1-2mW,其频谱分布与波长增益谱对应。 

  这就是为什么经过若干个OLA放后必须经过光电变换,分别取出各波长光路电信号进行定时、整形与再生(3R),完成光数信号处理原因,它决定了电中继段或复用段距离或最光中继段数。当然,其他因素例允许色散值也决定此电中继段距离,这由系统设计作光功率预算时,哪个因素求最严格来确定。 

  2 DWDM系统测试求 

  以SDH终端设备为基础多波长密集光波分复用系统和单波长SDH系统测试求差别很。首先,单波长光通信系统精确波长测试是不重,只需用普通光功率计测量了光功率值就可判断光系统是否正常了。设置光功率计到一个特定波长值,例是1310nm还是1550nm,仅用作不同波长区光系统光源发光功率测试较准与修正,因为对宽光谱功率计而言,光源波长差几十nm时测出光功率值差别也不。可是,对DWDM系统就完全不同了,系统有很多波长,很多光路,分别测出系统中每个光路波长值与光功率小,才能共发判断出是哪个波长,哪个光路系统出了问题。由于各个光路波长间隔通常是1.6nm(200GHz)、0.8nm(GHz),甚至0.4nm(50GHz),故必须有波长选择性光功率计,即波长计或光谱分析仪才能测出系统各个光路波长值和光功率小,因此,用一般光功率计测出系统总光功率值是不解决问题。其次,为了平滑地增加波长、扩DWDM系统容量,或为了灵活地调度、调整电路和容量,需减少某个DWDM系统波长数,即求DWDM系统在增加或减少波长数时,总输出光功率基本稳定。这样,当有某个光路、某个净负荷载体,即光波长或光载频失效时,又用普通光功率计测量总光功率值是无? ǚ⑾治侍獾模蛭涣礁龉庠仄倒β蚀蟠蠼档突蚴В宰艿墓夤β手涤跋旌苄 4耸保匦攵愿鞲龉庠仄档墓β式醒≡裥圆饬浚唤霾獬龉夤β实缙街担一棺既返夭獬鼍咛宓牟ǔ岛螅拍苋非兄朗悄母霾ǔ奶豕饴烦隽宋侍狻U獠唤鲈谂卸瞎饴饭收鲜狈浅1匾以谙低嘲沧啊⒌鞑夂腿粘N币埠苤匾?nbsp;

  此外,为了测量光放器增益光谱特性,尤其是增益平坦度,需找出各波长或各光路功率电平差值时,也必须测量出各光路波长值和光功率值。 

  为便于查寻光线路放故障,除测量各个光路波长值和光功率外,还测量出各个光路信噪比(OSNR)。这,在测量OSNR时注意测量仪表噪声带宽。例用HP70952B光谱分析仪(噪声带宽1nm)测量OSNR比用Agilent 86121A WDM光路分析仪(噪声带宽0.1nm)测量出OSNR低约10dB;这是因为前者取出噪声功率是后者取出噪声功率10倍,自然,前者测出OSNR低约10db(因光信号功率测量有差别)。 

  由于DWDM系统有n个波长,n个光路,等效于n个虚SDH光通信系统,故在系统测量点必须有光分路器(分光器),以避免在做波长和功率测量时中断系统,造成量业务丢失。 

  为便于比较对照,将OSP-102/OMS-100组合测试仪和一个典型实验室用光谱分析仪OSA技术规范列在一起。 

  3 可调谐光滤波器 

  为使具有光谱分析仪功能仪表适合现场测试,需有轻便灵巧可调谐光滤波器选择光波长。它是一个可调法布-泊罗(Fabry-Perot)滤波腔体,它基本结构是由两块部分镀银板构成反射平面,两块板相对分开距离是可普。其滤波原理是:对某个波长光,当调节两块板之间距离,使在两块板之间反射引起部分射线在相位上完全重叠时,滤波器对该波长光是直通,而对其他波长光会引入很衰减。 

  这种可调谐光滤波器与光分度计或旋转干涉滤波器相比有很多优点。它没有轴承、轴、马达等,不存在由于连续持久操作引起磨损、破裂等问题;结构非常坚实,对振动不敏感。它是不可逆光器件,无论是衰减,还是通常波长均与输入光波射线极化无关;这一优点在有几个波长激光器都调整到有相同输出光功率时尤其重。 

  4 便携式光谱分析仪 

  适用于DWSM系统现场安装调测与日常维护便携式光谱分析仪,除去前已介绍HP 70952B,Agilent 86121A外,现举OSP-102插件和OMS-100主机配合专用于DWDM系统测试便携式光谱分析仪为例,说明采用可调谐光滤波器一方面使成本显著降低,一方面使重量减轻。体积缩小,有利于便携。为便于使用,还增加了下述分立应用方式。 

  (1)光谱分析仪方式 

  用可调谐光滤波器沿着选测波长范围调整移动,将以图形方式显示测量结果,可用游标定位估计波长、功率数值,以及各波长和功率差值测试数据。还可用存储器存储两个光谱测试数据进行比较。 

  (2)光纤系统方式 

  用表列出直到16个光路或波信道被测试波长、功率和S/N。这种应用方式对光纤通信系统日常维护测试特别有用。因为在DWDM系统运行过程中,通常不希望光载频信号功率超过规定容限。 

  (3)光功率计方式 

  可调谐光滤波器固定调整到所选波长,以数显示该波长光功率,就可以用来检测该光路或信道光载频功率随时间变化,即稳定程度。这一方式在检测中断故障时尤其有用。 

  (4)监视器输出方式 

  将被滤出光信号一部分送到监视器输出,就能在不影响其他光路或波信道业务条件下对DWDM系统某指定波信道进行比特误码率测试,也可具体检测出哪一个波信道传输有问题。 

  5 展望 

  为了持续增加通信络容量与通信带宽,光纤通信中电时分复用与光波分复用这两种主扩容手段已结合,基础速率为2.5Gbps/10Gbps8波、16波、32波、40波乃至80波密集波分复用系统已经商用,所有波长都落在常规C带(波段)内(1530-1565nm);它又可分为蓝带和红带。光路间隔已从100GHz(0.8nm)缩小到50GHz(0.4nm)。进一步增加波长数,例增加到160波以上时将应用L带(1565-1625nm),即所谓第4代WDM光通信系统。为了适应波长数不断增加DWDM系统迅速发展形势,测量仪表和测量技术也在迎头赶上。例Ando Electric公司最近推出一系列针对DWDM市场解决方案。其中有AQ4321A/AQ4321D可调激光源,它不仅光输出功率高,而且波长测量精度高,在1520nm时可达到±0.01nm测量精度。AQ6317B是测量DWDM系统和部件高精度、高分辨率光谱分析仪,它有动态范围,并同50GHz光路间隔L带DWDM系统兼容。还有AQ8423Z光放器分析仪,它覆盖C带和L带波长,能与AQ6317系统光谱分析仪配套。它可精确地测量噪声指数NF和光链路中光放增益,分隔ASE光噪声和经过光放器放光信号,并能达到最小光路间隔25GHz最佳效果。当将AQ8423Z与AQ6317B联合使用时可测量多达200个光路N F图形。最近又推出新多波长测量仪,一次可完成多达256条光路波长测量。总之,DWDM系统测量技术和测试仪表正向着更多波长、更波长测量精度和可分辨出更小光路间隔,即向着能满足未来更高波分密度、更巨络容量传输设备求发展。  

 
 
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